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摘 要:提出氧化锌阀片的漏电流与其化工材料的电导率大小有关,在阀片的配方、工艺固定的情况下,组成材料的电导率高,所烧成的阀片的漏电流也相应增加,反之亦然。因此,在选购化工材料时,把控制材料的电导率应作为一项
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摘 要:因为4/10大电流和2ms方波电流对MOA阀片的破坏特性不同,提高MOA阀片4/10大电流冲击耐受能力应与提高2ms方波耐受能力有着不同的解决思路。本文例举了提高MOA阀片4/10大电流冲击耐受能力的方法与途径,并分析了各
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摘 要:探讨了氧化锌压敏陶瓷电阻片的电容在冲击破坏方面的作用,提出了两种冲击状态下的导通形式,说明了氧化锌压敏陶瓷电阻片的电容对冲击破坏机理的影响存在。关键词:氧化锌;电阻片电容;冲击破坏;影响;探讨分类号
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摘 要:在氧化锌压敏电阻器Zn-Bi系配方中,根据电性能的需要几乎均存在着大量的低熔点物质,如Bi2O3、Sb2O3、B2O3等,在高温烧结过程中,由于低熔点物质的挥发,造成产品性能的劣化。本文通过对烧成气氛的研究,提出了解决
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EMC 的定义 EMC:为Electro Magnetic Compatibility 的省略语,通常又翻成电磁相容性。 在IEC(国际电气标会议)的定义中为(对任何的东西而言,不给其无法容许的电磁干扰波,且在
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随着新技术的飞速发展,新的电子产品层出不穷。如何使电子产品满足电磁兼容要求,并改善其电磁兼容性能,这已经成为产品开发过程中的一大难题。EMC和EMI测量设备能够在较短的测量时间内提取大量精确的信息,采用这种
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摘要: 电涌保护器(Surge protection Device)是电子设备雷电防护中不可缺少的一种装置。电涌保护器的作用是把窜入电力线、信号传输线的瞬时过电压限制在设备或系统所能承受的电压范围内,或将强大的雷电流泄流入地,
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随着PC和无线通信业的成长,能减轻电磁干扰(EMI)和射频干扰(RFI)的芯片大小滤波器的性能不断改进并且越来越流行。快速修订的国际规范和新兴的技术问题,使得元件造商们可随时满足OEM制造商在更小空间提供更多性能的需
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质量一致性检验 ( 参考件 )A1(3 . 5) 质量一致性检验 与某分规范有关的空白详细规范应规定质量一致性检验的试验一览表。 一览表还应规定逐批和周期检验的组别的划分、抽样和周期。 检查水平 (IL) 和质量合格水平 (A
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MIL-HDBK-5J: Metallic Materials and Elements for Aerospace Vehicle Structures (1733 pages, 68.5 MB) MIL-HDBK-5J(1): Notice 1 (1 page, 73 KB) MIL-HDBK-61A Configuration Management Guidance&n
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MIL-STD-461E Requirements for the Control of Electromagnetic Interference Charac.pdf mil-c-17-130e.pdf mil-c-17-95e.pdfMIL-C-17/112A.pdf MIL- C-17/181B.pdf MIL-C-17/28C.pdf MIL-C-17/6B.pdf MIL-C-17/79
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MIL-F-48616 FILTER (COATINGS), INFRARED INTERFERENCE, GENERAL SPECIFICATION FOR.pdf MIL-F-48616 NOTICE 1.pdf2005新版 MIL-STD-690D Failure Rate Sampling Plans and Procedures - Revision D.pdfMIL-STD-191
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美国军标免费下载:MIL-C-39012_16F Connectors, Plug, Electrical, Coaxial, Radio Frequency, (Series BNC (Cabled), Pin Contact, Class 2).pdfMIL-C-13777G.pdfMIL-C-17/133D.pdfMIL-C-24308 19A (30 April 1980)
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美国军标MIL-R-23139B|MIL-W-60302|MIL-W-63468A|MIL-STD-1540D|MIL-STD-1750A免费下栽:MIL-R-23139B.pdf MIL-R-23139B Notice1.pdf MIL-W-60302 (29 May 1967).pdf MIL-W-60302 Notice 1 (27 December 1995).pdf MI
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网上找到的美国军标标准:MIL-STD-1916MIL-STD-704E AIRCRAFT ELECTRIC POWER CHARACTERISTICS MIL-STD-704 Revision F Update.pdfMIL-STD-883F Test Method Standard Microcircuits - Revision F.part1.r
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